Оборудование

ИК-Фурье спектрофотометр Varian 640-IR
Фурье-спектрометр предназначен для регистрации и исследования оптических спектров в инфракрасной области, для количественного анализа и контроля качества в строительной, химической, нефтехимической, полупроводниковой, фармацевтической, пищевой и парфюмерной промышленности, осуществления экологического контроля, и др. видов экспертиз.

Основные технические характеристики:

Тип интерферометра: 38 мм динамически юстируемый, 60° интерферометр Майкельсона

Спектральный диапазон: 375 – 7900 см^-1

Источник: керамический

Делители пучка: оптимизированный KBr

Детектор: охлаждаемый DLaTGS

Спектральное разрешение: <0.25 см^-1

Соотношение сигнал/шум (при измерении “пик к пику” при стандартной конфигурации со спектральным разрешением 4 см^-1, время интегрирования 5 сек): 6 000:1 р‐р (абсорбция =7,2 х 10^‐⁵)

Размеры кюветного отделения (Ш х Г х В): 23,2 х 27,6 х 15,4 см

Основные приставки: совместим с устанавливаемыми в кюветное отделение приставками от основных производителей (PIKE, Specac, Harrick) и используют ART технологию (технология распознавания приставок).

Термоанализатор SETARAM LABSYS

Прибор позволяет проводить термический анализ образцов методами термогравиметрии, дифференциальной сканирующей калориметрии и дифференциального термического анализа. Анализ может проводиться, как одним из перечисленных методов (ТГА, ДСК, ДТА), так и одновременно двумя в следующих комбинациях: ТГА – ДСК, ТГА – ДТА. Возможно проведение исследований в различных атмосферах с варьируемой скоростью нагрева.

Основные технические характеристики:

Диапазон температур: комн. - 1400 °C

Скорость нагрева: 0.01 – 50 °C/мин

Масса навески: до 200 мг

Материал тиглей: Pt, Al2O3

Чувствительность: 0.2 мкг, 0.06 мкВ

Атмосфера: воздух, инертный газ или вакуум

Скорость потока газа - до 1000 мл/мин.

Сканирующий электронный микроскоп Quanta 200

Растровый электронный микроскоп (РЭМ) Quanta 200 предназначен для проведения исследований в любых областях материаловедения, в области нано- и биотехнологий. Позволяет получать изображения различных объектов с увеличением, превышающим 100 000 крат, с большим числом элементов разложения (пикселей). Прибор предназначен для выполнения различных исследований с минимальными затратами времени на препарирование объектов, обеспечивая их наблюдение с исключительной глубиной резкости. Микроскоп оснащен рентгеновским спектрометром для проведения элементного микроанализа (EDAX).

Основные технические характеристики:

Катод: вольфрамовый

Апертуры: 7.5 – 120 мкм

Ускоряющее напряжение: 100 В – 30 кВ

Максимальное увеличение: до 100000 крат

Сверхвысокое разрешение: до 1 нм (при 20 кВ и рабочем расстоянии 2 мм)

Вакуумные режимы: высокий, низкий вакуум и режим естественной среды

Моторизированный столик: картезианского типа с пятью степенями свободы

Разрешение EDX детектора: 129 эВ на линии Ka(Mn), скорость счета до 100000 имп/с

Микроскоп управляется с использованием ПК.

Металлографический микроскоп Olimpus BX-51M

Микроскопия в темном и светлом поле. Коноскопическая и ортоскопическая проекция. Изучение микроструктуры объектов.

Основные технические характеристики:

Режимы: просвет + отражение

Типы освещения: диаскопическое, эпископическое

Максимальное увеличение: 1000 крат

Разрешение: до 0,5 мкм

Светофильтры для коррекции гаммы и яркости, монохроматизации, независимые поляризаторы.

Микроскоп оснащен камерой, позволяющей получать высококачественные микроснимки исследуемых объектов.

Рентгеновский дифрактометр ARL- X’TRA

Прибор предназначен для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических проб методом порошковой рентгеновской дифракции (ПРД), для определения степени кристалличности, кристаллографического анализа, анализа тонких пленок и следов фаз. Широкий диапазон применения позволяет использовать прибор в таких разноплановых отраслях, как материаловедение в строительной индустрии, химическая, нефтехимия, горнорудная и металлургическая промышленность. А также в лабораториях промышленных предприятий и научно- исследовательских институтов.

Управление прибором осуществляется с ПК программой Win XRD V:

2.0- 6 (дополнительные опции ICDD 2007, SIROQUANT).

Программа дает возможность снять дифрактограмму, удалить фон, найти дифракционные пики и их интенсивности, сравнить список пиков с базой данных порошковой дифракции ICDD и сформировать список возможных соответствий для качественного анализа.

С помощью программы можно измерить: угол между падающим и дифрагированным пучком с точностью до 0.0001^о; расстояние между соседними плоскостями дифракционной решетки d с точностью до 0.0001 ; интенсивность дифракционных пиков I в относительных единицах.

Основные технические характеристики:

Гониометр: вертикальный широкоугольный с углом Тета-Тета; угловые диапазоны от -8 до160^o(2 . Благодаря такой конфигурации гониометра, проба остается неподвижной в горизонтальном положении, пока перемещаются рентгеновская трубка и детектор, что очень важно для порошковых и жидких проб.

Гониометр снабжен универсальным предметным столиком для одной твердой пробы размером 10х3х2 мм и столиком с 12-ти позиционным магазином подачи проб с вращателем пробы.

Система щелей падающего/ отраженного пучка регулируется от 0 до 10 мм с микронным шагом. Коллиматорные и рассеивающие щели имеют угловое расхождение 1.15⁰, ограничивающее щели первичного и отраженного пучка в оптической системе.

Рентгеновская трубка: фирмы TALES (Франция).

Технические данные трубки: 60 кВ, 2200Вт

МС 61- 04× 12- длиннофокусная трубка (0.4мм× 12мм) CuKα , Ni- фильтр.

Детектор Пелтье: с термоэлектрической системой охлаждения.

Энергетическое разрешение – усиленная интенсивность дифрагированного пучка благодаря электронному разделению энергий.

КПД- очень высокий- регистрируется почти 100% CuKα лучей.

Генератор GenX XRD: высоковольтный полупроводниковый

Напряжение: 10- 60кВ, управляется компьютером.

Ток : 0- 50 мА, управляется компьютером.

Определитель водонепроницаемости бетона C0244/AV

Прибор предназначен для определения глубины проникания находящейся под давлением воды в образец бетона. Основные эталонные стандарты: EN 12390-8, ISO 7031 и DIN 1048.