Размер шрифта: A A
Цвет сайта: A A

Модульная система для структурного анализа наноструктур для работы в режимах точечной и линейной коллимации SAXSess mc2

Модульная система для структурного анализа наноструктур для работы в режимах точечной и линейной коллимации SAXSess mc2

Модульная система для структурного анализа наноструктур для работы в режимах точечной и линейной коллимации SAXSess mc2
 

текущая загрузка оборудования 

планируемая загрузка на следующий квартал 


Система для определения дисперсного состава наноразмерных объектов методом рентгеновской дифрактометрии


Система представляет собой малоугловой рентгеновский дифрактометр, предназначенный для характеристики структуры в нанометровом диапазоне. 

Система служит для анализа наноструктур, присутствующих в различных видах образцов, от жидкостей (например, коллоиды, растворы белков) до твёрдых тел (например, полимерные плёнки, нанокомпозиты).

Функциональные возможности: 

  • определение размера объектов (1…150 нм)
  • определение формы частиц
  • определение степени закристаллизованности
  • определение внутренней структуры
  • определение размеров пор.

Дополнительная информация:

Производитель:Anton Paar
Страна:Австрия
Год выпуска:2010.