Размер шрифта: A A
Цвет сайта: A A

Модульная система для структурного анализа наноструктур для работы в режимах точечной и линейной коллимации SAXSess mc2

Модульная система для структурного анализа наноструктур для работы в режимах точечной и линейной коллимации SAXSess mc2

Модульная система для структурного анализа наноструктур для работы в режимах точечной и линейной коллимации SAXSess mc2
 


Система для определения дисперсного состава наноразмерных объектов методом рентгеновской дифрактометрии


Система представляет собой малоугловой рентгеновский дифрактометр, предназначенный для характеристики структуры в нанометровом диапазоне. 

Система служит для анализа наноструктур, присутствующих в различных видах образцов, от жидкостей (например, коллоиды, растворы белков) до твёрдых тел (например, полимерные плёнки, нанокомпозиты).

Функциональные возможности: 

  • определение размера объектов (1…150 нм)
  • определение формы частиц
  • определение степени закристаллизованности
  • определение внутренней структуры
  • определение размеров пор.

Дополнительная информация:

Производитель:Anton Paar
Страна:Австрия
Год выпуска:2010.