Размер шрифта: A A
Цвет сайта: A A

27 Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 с дополнительной системой обеспечения термоиспытаний

27 Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 с дополнительной системой обеспечения термоиспытаний

27 Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 с дополнительной системой обеспечения термоиспытаний
 

Проведение исследований в любых областях материаловедения, в области нано- и биотехнологий. 


Растровый электронный микроскоп позволяет получать изображения различных объектов с увеличением, превышающим 100 000 крат, с большим числом элементов разложения (пикселей). Прибор предназначен для выполнения различных исследований с минимальными затратами времени на препарирование объектов, обеспечивая их наблюдение с исключительной глубиной резкости. Микроскоп оснащен рентгеновским спектрометром для проведения элементного микроанализа (EDAX).

Технические характеристики:

  • катод: вольфрамовый
  • апертуры: 7.5 – 120 мкм
  • ускоряющее напряжение: 100 В – 30 кВ
  • максимальное увеличение: до100000 крат
  • сверхвысокое разрешение: до 1 нм (при 20 кВ и рабочем расстоянии 2 мм)
  • вакуумные режимы: высокий, низкий вакуум и режим естественной среды
  • моторизированный столик: картезианского типа с пятью степенями свободы
  • разрешение EDX детектора: 129 эВ на линии Ka(Mn), скорость счета до 100000 имп/с
  • микроскоп управляется с использованием ПК.
В 2015 году микроскоп дооснащен системой обеспечения проведения термоиспытаний.

Дополнительная информация:

Производитель: FEI
Страна: США
Год выпуска: 2008.